ČSN EN 60749-8 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

STANDARD published on 1.12.2003

English (the title page in Czech only) -
Print design (19.70 USD)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-8
Classification mark: 358799
Catalog number: 68968
Publication date standards: 1.12.2003
The number of pages: 44
Approximate weight : 132 g (0.29 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 60749-8 (358799):

Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.