We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
STANDARD published on 29.3.1991
Designation standards: ČSN 356575
Classification mark: 356575
Catalog number: 33121
Publication date standards: 29.3.1991
SKU: NS-124756
The number of pages: 68
Approximate weight : 204 g (0.45 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
překladem IEC 759. Do normy jsou doplněna v čl. 2 a 3 doplňující ustanovení označená "čs. doplněk". Norma stanoví metody zkoušení pro spektrometry energií záření X s polovodičovými detektory. Tyto systémy sestávají z polovodičového detektoru a z elektronické části pro zpracování signálu, připojené k amplitudovému analyzátoru/čítači. Metody zkoušení pro amplitudové analyzátory čítače nejsou v této normě zahrnuty. V poměrně rozsáhlé normě je rozsáhlá i názvoslovná část (str. 2 až 12) a používané symboly (str. 12 až 15). Dále jsou normalizovány obecné a společné údaje v části "úvod" a "všeobecně". Konečně jsou normalizovány vlastní požadavky na detektory a na měření (linearita výšky impulsu, vlivy četnostní závislosti, vlivy přetížení, detekční účinnost a další). ČSN 35 6575 byla schválena 14.3.1991 a nabyla účinnosti od 1.2.1992
Spektrometry energií záření X s polovodičovými detektory. Metody zkoušení.
Change published on 1.4.1997
Selected format: WITHDRAWN
1.12.2011
1.10.2003
1.12.2011
WITHDRAWN
1.1.2002
1.10.2005
1.10.2005
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
Latest update: 2025-04-21 (Number of items: 2 197 286)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.