We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
STANDARD published on 1.12.2003
Designation standards: ČSN EN 60749-1
Classification mark: 358799
Catalog number: 68967
Publication date standards: 1.12.2003
SKU: NS-158193
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody) a zavádí ustanovení společná pro všechny další části řady.
V případě rozporu mezi touto normou a příslušnou dílčí specifikací, platí ta později vydaná.
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
Latest update: 2024-11-22 (Number of items: 2 206 568)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.