ČSN EN 60749-3-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Translate name

STANDARD published on 1.10.2017


Language
Format
AvailabilityIN STOCK
Price9.20 USD excl. VAT
9.20 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-3-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 503484
Publication date standards: 1.10.2017
SKU: NS-796754
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN 60749-3-ed.2 (358799):

Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadávání zakázek. Vnější vizuální prohlídka je nedestruktivní zkouška, která je aplikovatelná na všechny typy pouzder. Zkouška je užitečná pro kvalifikaci, sledování procesu nebo schválení výrobní dávky



Cookies Cookies

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.

You can refuse consent here.

Here you can customize your cookie settings according to your preferences.

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things.