We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Translate name
STANDARD published on 1.10.2017
Designation standards: ČSN EN 60749-3-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 503484
Publication date standards: 1.10.2017
SKU: NS-796754
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadávání zakázek. Vnější vizuální prohlídka je nedestruktivní zkouška, která je aplikovatelná na všechny typy pouzder. Zkouška je užitečná pro kvalifikaci, sledování procesu nebo schválení výrobní dávky
Latest update: 2024-12-23 (Number of items: 2 217 157)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.