ČSN EN 60749-37 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

STANDARD published on 1.9.2008

Language
Format	Print design - 14.40 USD
Availability	IN STOCK
Price	14.40 USD excl. VAT
14.40 USD
	Order including changes

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-37
Classification mark: 358799
Catalog number: 81899
Publication date standards: 1.9.2008
SKU: NS-158242
The number of pages: 28
Approximate weight : 84 g (0.19 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Send to a colleague

Query

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN 60749-37 (358799):

Část 37 souboru norem IEC 60749 popisuje zkušební metodu pro hodnocení a porovnání chování povrchově montovaných elektronických součástek pro ruční elektronické výrobky při působení zrychleného zkušebního prostředí, kdy nadměrný ohyb desky s plošnými spoji vyvolá poruchu výrobku. Popsaná metoda používá měřič zrychlení pro sledování mechanického úderu, který odpovídá namáhání součástky na osazené desce Zkouška je vhodná pro součástky s vývody uspořádanými do matice, nebo pouze po obvodu.