We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
STANDARD published on 1.9.2008
Designation standards: ČSN EN 60749-37
Classification mark: 358799
Catalog number: 81899
Publication date standards: 1.9.2008
SKU: NS-158242
The number of pages: 28
Approximate weight : 84 g (0.19 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Část 37 souboru norem IEC 60749 popisuje zkušební metodu pro hodnocení a porovnání chování povrchově montovaných elektronických součástek pro ruční elektronické výrobky při působení zrychleného zkušebního prostředí, kdy nadměrný ohyb desky s plošnými spoji vyvolá poruchu výrobku. Popsaná metoda používá měřič zrychlení pro sledování mechanického úderu, který odpovídá namáhání součástky na osazené desce Zkouška je vhodná pro součástky s vývody uspořádanými do matice, nebo pouze po obvodu.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 37: Zkouška pádem osazené desky metodou používající měřič zrychlení.
Change published on 1.6.2023
Selected format: WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
1.1.2000
1.1.2000
1.1.2000
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
Latest update: 2024-12-23 (Number of items: 2 217 157)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.