We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
        
        Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
          Automatically translated name:
          Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 : Temperature and humidity storage. ( In English , the text is part of a copy ).        
      
STANDARD published on 1.4.2015
    
        Designation standards: ČSN EN 60749-42
                Classification mark:  358799
                
                Catalog number:  97100
                
                
               
                Publication date standards:  1.4.2015
                  SKU:  NS-583589
          The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
        Country:          Czech technical standard
        Category: Technical standards ČSN
        
                
              
Tato norma určuje zkušební metodu na vyhodnocení odolnosti polovodičových součástek, které se provozují v prostředí vysoké teploty a vysoké vlhkosti.
Tato zkušební metoda se používá na vyhodnocení odolnosti proti korozi kovových připojení na čipech polovodi-čových součástek, které se nachází v plastových a jiných pouzdrech. Používá se také jako prostředek vyhodno-cení zrychleného pronikání vlhkosti přes pasivační vrstvu a jako přípravná fáze pro různé druhy zkoušek
  WITHDRAWN
1.1.2000
  WITHDRAWN
1.1.2000
  WITHDRAWN
1.1.2000
  WITHDRAWN
1.1.2000
  WITHDRAWN
1.1.2000
  WITHDRAWN
1.1.2000
      Do you want to make sure you use only the valid technical standards? 
      We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
     
      Would you like to know more? Look at this page.
    
Latest update:  2025-11-03 (Number of items: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.