We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
Automatically translated name:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 : Temperature and humidity storage. ( In English , the text is part of a copy ).
STANDARD published on 1.4.2015
Designation standards: ČSN EN 60749-42
Classification mark: 358799
Catalog number: 97100
Publication date standards: 1.4.2015
SKU: NS-583589
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma určuje zkušební metodu na vyhodnocení odolnosti polovodičových součástek, které se provozují v prostředí vysoké teploty a vysoké vlhkosti.
Tato zkušební metoda se používá na vyhodnocení odolnosti proti korozi kovových připojení na čipech polovodi-čových součástek, které se nachází v plastových a jiných pouzdrech. Používá se také jako prostředek vyhodno-cení zrychleného pronikání vlhkosti přes pasivační vrstvu a jako přípravná fáze pro různé druhy zkoušek
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
Latest update: 2024-12-19 (Number of items: 2 216 019)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.