We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Translate name
STANDARD published on 1.1.2018
Designation standards: ČSN EN 60749-43
Classification mark: 358799
Catalog number: 504152
Publication date standards: 1.1.2018
SKU: NS-803958
The number of pages: 48
Approximate weight : 144 g (0.32 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma poskytuje pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů (IC). Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1: Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost. Toto přizpůsobení založené na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu může být také použitelné, pokud je specifikováno POZNÁMKA 2: Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 43: Pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti integrovaných obvodů (IC).
Change published on 1.4.2022
Selected format:
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
Latest update: 2024-07-26 (Number of items: 2 339 085)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.