ČSN EN 61967-2 (358798)

The category - similar standards:

Integrated circuits. MicroelectronicsEmission

Annotation of standard text ČSN EN 61967-2 (358798):

Tato norma popisuje metodu měření elektromagnetického záření z integrovaného obvodu (IC). Hodnocený IC je namontován na speciální zkušební desce s plošnými spoji, která je uchycena ke vstupnímu otvoru stěny dutiny. Dutina je širokopásmová typu TEM nebo gigahertzová TEM (GTEM). Zkušební deska není jako obvykle uvnitř dutiny, ale je součástí stěny dutiny. Tato metoda je použitelná pro libovolnou dutinu typu TEM nebo GTEM, která má příslušně upravenu stěnu. Měřené RF napětí bude však ovlivněno řadou faktorů. Hlavním faktorem je vzdálenost mezi clonou a zkušební deskou (stěnou dutiny).

Tento postup používá 1GHz TEM dutinu se vzdáleností 45 mm a dutinu GTEM s průměrnou vzdáleností mezi clonou a spodní stěnou 45 mm nad vstupním otvorem. Jiné dutiny nemusí vytvářet identické výstupní spektrum, mohou však být použity pro srovnávací měření, vzhledem k jejich omezení ve frekvenci a citlivosti. Převodní faktor může dovolit srovnání mezi daty měřenými na dutinách TEM a GTEM, pro různé vzdálenosti mezi clonou a spodní stěnou.

Zkušební deska s IC ovlivňuje geometrii a orientaci IC vzhledem k dutině a vylučuje jakékoli propojovací vodiče uvnitř dutiny - tyto jsou umístěny na zadní straně desky, tj. na vnější straně dutiny. Dutina TEM je na jednom 50-ohmovém otvoru zakončena rezistorem 50 ohm. Druhý 50-ohmový otvor dutiny TEM nebo jediný 50-ohmový otvor dutiny GTEM je připojen na vstup spektrálního analyzátoru nebo přijímače, který měří RF emisi vyzařovanou z integrovaného obvodu na clonu dutiny.

Přejímaná norma se skládá ze tří stran anglického textu normy EN a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC