ČSN EN 62132-4 (358798)

The category - similar standards:

Integrated circuits. MicroelectronicsImmunity

Annotation of standard text ČSN EN 62132-4 (358798):

Část 4 normy IEC 62132 popisuje metodu měření odolnosti integrovaných obvodů (IC) za přítomnosti RF rušení šířených vedením, které jsou například důsledkem vyzařovaných RF rušení. Popisovaná metoda zaručuje vysoký stupeň opakovatelnosti a korelace měření odolnosti.

Norma IEC 62132 vytváří společnou základnu pro hodnocení polovodičových součástek používaných v zařízeních, které pracují v prostředí, která jsou vystavena nežádaným vysokofrekvenčním elektromagnetickým vlnám.

IEC 62132 se skládá z následujících částí, se společným názvem Integrované obvody - Měření elektromagnetické odolnosti, 150 kHz až 1 GHz:

Část 1: Všeobecné podmínky a definice

Část 2: Měření odolnosti proti vyzařovanému poli - Metoda dutiny TEM a širokopásmové dutiny TEM

Část 3: Injekce velkého proudu (BCI), 10kHz až 1 GHz

Část 4: Metoda přímé injekce RF výkonu

Část 5: Metoda pracovní Faradayovy klece

Přejímaná EN 62132-4 představuje tři strany anglického textu normy EN a 49 stran anglického a francouzského textu normy IEC