We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Translate name
STANDARD published on 1.1.2023
Designation standards: ČSN EN IEC 60749-10-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 515546
Publication date standards: 1.1.2023
SKU: NS-1097936
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma je určena k hodnocení součástek ve volném stavu a namontovaných na deskách s plošnými spoji pro použití v elektrických zařízeních. Metoda slouží k určení kompatibility součástek a podsestav, aby odolaly středně silným rázům. Použití podsestav je prostředkem ke zkoušení součástek v podmínkách použití tak, jak jsou osazeny na deskách s plošnými spoji. Mechanické rázy způsobené náhle působícími silami nebo náhlými změnami pohybu, které jsou způsobené manipulací, přepravou nebo provozem v terénu mohou narušit provozní vlastnosti, zejména, pokud se rázové pulsy opakují. Jedná se o destruktivní zkoušku určenou pro kvalifikaci součástek
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
Latest update: 2024-12-19 (Number of items: 2 216 019)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.