ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (358799)

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (358799):

Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška.

Cíle zkoušky jsou tyto:

• a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a
• b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6)