ČSN EN IEC 60749-26-ed.3 (358799)

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-26-ed.3 (358799):

Tato norma určuje postup pro zkoušení, vyhodnocování a třídění součástí a mikroobvodů podle jejich náchylnosti (citlivosti) k poškození nebo degradaci vlivem působení elektrostatického výboje (ESD), který je definován modelem lidského těla HBM.

Účelem této normy je určit takové zkušební metody, které budou opakovaně vyvolávat poruchy způsobené HBM a poskytovat spolehlivé a opakovatelné HBM ESD výsledky zkoušek pro všechny zkoušeče bez ohledu na typ součásti. Data získaná opakovatelným měřením umožní přesnou klasifikaci HBM ESD podle úrovní citlivosti.

ESD zkoušení polovodičových součástek je vybráno ze zkušební metody strojovým modelem (MM), která je uvedena v IEC 60749-27, ostatní ESD zkoušky jsou vybrány z dalších norem souboru IEC 60749. Pokud není uvedeno jinak, je popisovaná zkušební metoda jednou z možných