We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Translate name
STANDARD published on 1.4.2021
Designation standards: ČSN EN IEC 60749-41
Classification mark: 358799
Catalog number: 512197
Publication date standards: 1.4.2021
SKU: NS-1020947
The number of pages: 36
Approximate weight : 108 g (0.24 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
Latest update: 2024-12-23 (Number of items: 2 217 157)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.