We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
STANDARD published on 1.11.2003
Designation standards: ČSN EN 60749-16
Classification mark: 358799
Catalog number: 68826
Publication date standards: 1.11.2003
SKU: NS-158206
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Účelem této části normy IEC 60749 je zjistit přítomnost volných částic uvnitř dutiny součástky, jako např. odštěpků keramiky, kousků spojovacího drátu, nebo kuliček pájky (perliček). Zkouška zjišťování šumu způsobeného nárazem částic je považována za nedestruktivní.
1.3.2007
1.12.2011
WITHDRAWN
1.8.2005
1.12.2003
1.12.2003
1.12.2004
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
Latest update: 2024-11-22 (Number of items: 2 206 568)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.