Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN 60749-29-ed.2 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
STANDARD published on 1.12.2011
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN 60749-29-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 89811
Publication date standards: 1.12.2011
SKU: NS-158228
The number of pages: 36
Approximate weight : 108 g (0.24 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN 60749-29-ed.2 (358799):
Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody.
Tato zkouška je považována za destruktivní.
Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření.
Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena.
Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2
Preview of the standard ČSN EN 60749-29-ed.2 (358799)
Similar standards:
1.4.2003
1.4.2003
WITHDRAWN
1.4.2003
WITHDRAWN
1.4.2003
1.6.2004
WITHDRAWN
1.7.2011
We recommend:
Technical standards updating
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
