We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
STANDARD published on 1.4.2003
Designation standards: ČSN EN 60749-10
Classification mark: 358799
Catalog number: 66849
Publication date standards: 1.4.2003
SKU: NS-158195
The number of pages: 4
Approximate weight : 12 g (0.03 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušku úderem, určenou ke zjištění vhodnosti součástek pro použití v elektronických zařízeních, které mohou být vystaveny mírně přerušovaným úderům, jako výsledek náhle působících sil nebo prudkých změn pohybu způsobených hrubým zacházením, dopravou, nebo oblastí působení. Údery tohoto typu mohou narušit provozní charakteristiky, obzvláště, jestliže se impulsy úderů opakují. Toto je destruktivní zkouška. Obvykle je vhodná pro pouzdra s dutinou. Obecně je zkouška mechanickými údery shodná s IEC 60068-2-27, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery.
Change published on 1.1.2023
Selected format:Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Correction published on 1.5.2007
Selected format:1.6.2003
1.2.2011
WITHDRAWN
1.6.1999
1.5.2008
1.7.2011
1.12.2010
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
Latest update: 2024-12-26 (Number of items: 2 217 217)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.