We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
STANDARD published on 1.4.2003
Designation standards: ČSN EN 60749-2
Classification mark: 358799
Catalog number: 66854
Publication date standards: 1.4.2003
SKU: NS-158212
The number of pages: 4
Approximate weight : 12 g (0.03 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušení nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Zkouška je určena především ke stanovení způsobilosti částí a materiálů součástek vyhnout se poruchám průrazem napětí, způsobeným snížením dielektrické pevnosti vzduchu a jiných dielektrických materiálů při snížených tlacích. Tato zkouška je vhodná pouze pro součástky u nichž pracovní napětí přesahuje 1 000 V.
Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky, za předpokladu, že jejich pouzdra patří mezi typy s dutinou. Zkouška je určena pouze pro součástky používané pro vojenské a kosmické účely. Obecně je tato zkouška nízkým tlakem vzduchu v souladu s IEC 60068-2-13, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 2: Nízký tlak vzduchu. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Correction published on 1.4.2007
Selected format:1.12.2004
1.6.2004
WITHDRAWN
1.3.2007
1.3.2007
1.12.2011
WITHDRAWN
1.8.2005
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
Latest update: 2024-12-23 (Number of items: 2 217 157)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.