We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
STANDARD published on 1.12.2004
Designation standards: ČSN EN 60749-23
Classification mark: 358799
Catalog number: 71680
Publication date standards: 1.12.2004
SKU: NS-158220
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato zkouška se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na pevné součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k časné úmrtnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy.
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Change published on 1.11.2011
Selected format:1.12.2011
1.12.2003
1.12.2004
1.6.2004
WITHDRAWN
1.3.2007
1.3.2007
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
Latest update: 2024-11-22 (Number of items: 2 206 568)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.