Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN IEC 748-11-1 (358798)
Semiconductor devices. Integral circuits. Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
STANDARD published on 1.10.1996
The information about the standard:
Designation standards: ČSN IEC 748-11-1
Classification mark: 358798
Catalog number: 20040
Publication date standards: 1.10.1996
SKU: NS-175824
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN IEC 748-11-1 (358798):
Účelem těchto zkoušek je prověřit, zda použité vnitřní materiály, konstrukce a zpracování integrovaných obvodů odpovídají požadavkům příslušné specifikace. Tyto zkoušky se normálně provádějí před tím než se integrované obvody opatří krytem nebo před zapouzdřením, jako 100% kontrola ke zjištění a vyřazení součástek s vnitřními vadami, které mohou vést k poruše součástek při běžném použití. Mohou se také provádět jako výběrová kontrola před zapouzdřením, ke zjištění účinnosti řízení jakosti výrobce a manipulačních postupů pro polovodičové součástky.
Preview of the standard ČSN IEC 748-11-1 (358798)
Similar standards:
WITHDRAWN
1.11.2006
1.8.2000
1.4.2006
1.9.2011
WITHDRAWN
1.4.2008
1.12.1994
We recommend:
Technical standards updating
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
