Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN 60749-8 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
STANDARD published on 1.12.2003
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN 60749-8
Classification mark: 358799
Catalog number: 68968
Publication date standards: 1.12.2003
SKU: NS-158253
The number of pages: 44
Approximate weight : 132 g (0.29 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN 60749-8 (358799):
Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.
Similar standards:
1.8.2002
1.10.2002
1.8.2001
1.1.2004
1.6.2002
1.2.2002
We recommend:
Technical standards updating
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
