Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN 60749-8 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
STANDARD published on 1.12.2003
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN 60749-8
Classification mark: 358799
Catalog number: 68968
Publication date standards: 1.12.2003
SKU: NS-158253
The number of pages: 44
Approximate weight : 132 g (0.29 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN 60749-8 (358799):
Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.
Similar standards:
1.8.2002
1.10.2002
1.8.2001
1.1.2004
1.6.2002
1.2.2002
We recommend:
Updating of laws
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
