Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN 60749-36 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
STANDARD published on 1.12.2003
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN 60749-36
Classification mark: 358799
Catalog number: 69113
Publication date standards: 1.12.2003
SKU: NS-158241
The number of pages: 16
Approximate weight : 48 g (0.11 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN 60749-36 (358799):
Tato část IEC 60749 používá zkoušku k určení vlivů stálého zrychlení na typy polovodičových součástek s dutinou. Je to zrychlená zkouška, navržená ke zjištění typů strukturálních a mechanických slabin, které jsou ne vždy zjistitelné zkouškou údery a vibracemi. Tato zkouška se může použít jako zkouška s vysokým namáháním (destruktivní), k určení mechanických mezí pouzdra, vnitřního pokovení a systému přívodů, připevnění čipu nebo podložky a dalších prvků mikroelektronické součástky. Když byly stanoveny meze vlastního namáhání, může se tato zkušební metoda využít jako nedestruktivní přímé stoprocentní třídění ke zjištění a vyřazení součástek, s nižší mechanickou pevností než je obvyklá, v kterémkoliv strukturálním prvku. Obecně je zkušební metoda stálým zrychlením v souladu s IEC 60068-2-7, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.
Similar standards:
1.5.2008
1.7.2011
1.12.2010
1.1.2011
1.11.2010
WITHDRAWN
1.1.2008
We recommend:
Updating of laws
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
